特點:
1. 新型電子光學系統(tǒng)設計達到掃描電鏡***高分辨率:二次電子0.4nm(30KV),STEM 0.34nm(30KV)。
2. Hitachi專利設計的E×B系統(tǒng),可以自由控制SE和BSE檢測信號。
3. 全新真空技術設計使得SU9000冷場發(fā)射電子束具有超穩(wěn)定和高亮度特點。
4. 全新物鏡設計顯著提高低加速電壓條件下的圖像分辨率。
5. STEM的明場像能夠調(diào)整信號檢測角度,明場像、暗場像和二次電子圖像可以同時顯示并拍攝照片。
6. 與FIB兼容的側(cè)插樣品桿提高更換樣品效率和高倍率圖像觀察效率。
| 招標產(chǎn)品 | 品牌/型號 | 招標單位 | 中標單位 | 中標價格 | 中標日期 |