XRF痕量元素分析及鍍層測厚儀（XRF analyzer of RoHS and coating thickness）

• 產品型號：X-Strata980

儀器簡介：

運用X熒光原理實現(xiàn)痕量元素分析及鍍層厚度測量。應用于： 
-有害元素痕量分析 
-焊料合金成分分析和鍍層厚度測量 
-電子產品中金和鈀鍍層的厚度測量 
-五金電鍍、CVD、PVD鍍層的厚度測量 
-貴金屬合金分析和牌號鑒定

主要特點：

X-Strata980結合了大功率X射線管和高分辨率探測器，能夠滿足多鍍層、復雜樣品和微小測試面積的檢測需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測器確保**的信/躁比，從而降低檢測下限。探測器分辨率極高，能更容易地識別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測結果可精確到ppm級，確保產品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對您的應用選擇*合適的分析模型：經驗系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結合。這款儀器能對電子產品上的關鍵組裝區(qū)域進行快速篩選性檢測。一旦識別出問題區(qū)域，即可對特定小點進行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。 
-25平方毫米PIN探測器 
-100瓦X射線管 
-多準直器配置 
-掃描分析及元素分布成像功能 
-靈活運用多種分析模型 
-清晰顯示樣品合格/不合格 
-超大樣品艙 
-同時分析元素含量和鍍層厚度