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產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
本款微分干涉顯微鏡55XA采用優(yōu)質(zhì)的無(wú)限遠(yuǎn)光路系統(tǒng)，配置了DIC微分干涉裝置，落射照明裝置、透射照明裝置和偏光裝置，可用于微分干涉觀察和透反射觀察。微分干涉相襯觀察時(shí)圖像清晰，干涉色均勻，具有較強(qiáng)的浮雕感。主要用于檢測(cè)COG導(dǎo)電粒子，同時(shí)也可用于半導(dǎo)體硅晶片、LCD基板、FPD電路板、太陽(yáng)能電池片的檢測(cè)?？偡糯蟊稊?shù)：50-800X 性能特點(diǎn)： 1、采用當(dāng)今*為先進(jìn)的無(wú)限遠(yuǎn)光路設(shè)計(jì)。 2、配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)。 3、微分干涉相襯觀察時(shí)圖像清晰，干涉色均勻，具有較強(qiáng)的浮雕感。 4、配置了無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)距平場(chǎng)消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置。視場(chǎng)清晰平坦。 5、三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，攝影時(shí)可**通光，適合低照度顯微圖像拍攝。 6、上光源采用翻蓋式12V50W鹵素?zé)粝?，下光源采?2V30W鹵素?zé)?，?nèi)置式可切換偏光觀察裝置，起偏器可360°旋轉(zhuǎn)。
| 招標(biāo)產(chǎn)品 | 品牌/型號(hào) | 招標(biāo)單位 | 中標(biāo)單位 | 中標(biāo)價(jià)格 | 中標(biāo)日期 |
