編輯日期：2026-04-14

XTL302-DIC微分干涉相襯金相顯微鏡

一、用途介紹：

XTL-302DIC正置微分干涉相襯金相顯微鏡適用于對不透明物體的表面形態(tài)進行反射式微分干涉相襯觀察，也可對透明物體進行透視顯微觀察。采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng)與模塊化功能設計理念，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)偏光觀察、微分干涉相襯觀察等功能，緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。適用于金相組織及表面形態(tài)的顯微觀察，是金屬學、礦物學、精密工程學研究的理想儀器。

二、產(chǎn)品特點：

采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng)，可提供**的光學性能。

緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微操作的防振要求。

大行程機械移動載物平臺，適合于大試樣顯微觀察或多試樣快速檢測。

模塊化的功能設計，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)偏振觀察、微分干涉相襯觀察等功能。

符合人機工程學要求的理想設計，使操作更方便舒適，空間更廣闊。