主要特點(diǎn):
高分辨觀察
利用金顆粒保證0.144nm分辨率DF-STEM像(標(biāo)準(zhǔn)型)。
大束流分析
約為非校正的STEM探針電流的10倍,可以進(jìn)行高速、高靈敏度能譜分析,可以在更短的時(shí)間內(nèi)獲得元素的面分布圖,使得檢測(cè)微量元素成為可能。
簡(jiǎn)化的操作
提供了專用的GUI自動(dòng)調(diào)節(jié)球差校正器
整體的解決方案
樣品桿與FIB兼容,提供了納米尺度的整體解決方案,從制樣到數(shù)據(jù)獲得和*終分析
多種評(píng)價(jià)和分析功能可選
可同時(shí)獲得和顯示SE&BF、SE&DF、BF&DF、DF/EDX和DF/EELS像;可以配備ELV-2000型實(shí)時(shí)元素Mapping系統(tǒng)(DF-STEM像可以同時(shí)獲得);可以同時(shí)觀察DF-STEM像和衍射像;可以配備超微柱頭樣品桿進(jìn)行三維分析(360度旋轉(zhuǎn))等。
| 招標(biāo)產(chǎn)品 | 品牌/型號(hào) | 招標(biāo)單位 | 中標(biāo)單位 | 中標(biāo)價(jià)格 | 中標(biāo)日期 |