編輯日期：2026-04-14

儀器的用途：

XPV-400型透反射偏光顯微鏡是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校*常用的專業(yè)實驗儀器?？晒V大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件，如：化工的化學(xué)纖維，半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗。

儀器特點：

透反射偏光顯微鏡系統(tǒng)是采用無限遠光學(xué)系統(tǒng)及模塊化功能設(shè)計，配置無窮遠無應(yīng)力長工作距離平場物鏡，將精密的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、先進的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、**的計算機圖像處理技術(shù)**地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項高科技產(chǎn)品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態(tài)圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。