性能和特點(diǎn)：NHT2  納米壓入測(cè)試儀 (0.1 - 500mN) 
瑞士CSM公司在原有NHT納米壓痕儀的基礎(chǔ)上，推出了NHT2 （NHT第二代）納米壓痕測(cè)試儀。采用了UNHT（CSM超納米壓痕儀）的先進(jìn)技術(shù)，其靈敏度及噪音水平和穩(wěn)定性得以顯著提高。

NHT2 納米壓痕儀主要用于測(cè)量納米尺度的硬度與彈性模量，可以用于研究或測(cè)試薄膜等納米材料的接觸剛度、蠕變、彈性功、塑性功、斷裂韌性、應(yīng)力-應(yīng)變曲線(xiàn)、疲勞、存儲(chǔ)模量及損耗模量等特性?？蛇m用于有機(jī)或無(wú)機(jī)、軟質(zhì)或硬質(zhì)材料的檢測(cè)分析，包括PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩繪釉漆，光學(xué)薄膜，微電子鍍膜，保護(hù)性薄膜，裝飾性薄膜等等。基體可以為軟質(zhì)或硬質(zhì)材料，包括金屬、合金、半導(dǎo)體、玻璃、礦物和有機(jī)材料等。

采用先進(jìn)的top reference（表面參比測(cè)試技術(shù)）設(shè)計(jì), NHT2 納米壓痕儀將熱漂移效應(yīng)（thermal drift）降低到了0.02nm/s的水平。客戶(hù)不需要軟件模擬近似扣除即可獲得可靠、穩(wěn)定的數(shù)據(jù)，也不需要長(zhǎng)期甚**隔夜的穩(wěn)定時(shí)間。對(duì)實(shí)驗(yàn)室的環(huán)境要求大為降低。

NHT2 納米壓痕儀同時(shí)具備了**上先進(jìn)納米測(cè)試系統(tǒng)所具有的豐富的測(cè)量模式，如恒應(yīng)變速率加載、視頻定位壓入、沖擊模式等。通過(guò)納米力學(xué)平臺(tái)的設(shè)計(jì)，客戶(hù)可以選擇其它豐富的選件構(gòu)建全套的納米力學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)。

技術(shù)參數(shù)：載荷范圍：0-500mN 
載荷分辨率：40nN 
*大壓入深度：200um 
位移分辨率： 0.004nm