編輯日期：2026-03-30

性能和特點:

采用的是光學技術方法。在薄膜的表面利用反射光和在下部的界面反射的光之間的干涉現(xiàn)象或是利用光的相位差來決定薄膜的性質(zhì)。這樣我們不但可以測量薄膜厚度還可測量光學常數(shù)。

如果是透明薄膜且可維持光的干涉性,用ST系列可測量任何樣品。通過數(shù)學計算多層薄膜的每個層的厚度都可測量。由于采用的是用戶友好界面,操作**簡單。樣品不會受到損害,并可快速測量從?到數(shù)十?的大范圍厚度。

測量迅速,操作簡單 

非接觸式,非破壞方式 

優(yōu)秀的重復性和再現(xiàn)性 

用戶易操作界面 

每個影像打印和數(shù)據(jù)保存功能 

可測量多達3層 

可背面反射

技術參數(shù):

測量方法: 非接觸式 

測量原理:反射計 

類型:手動的 

平臺尺寸: 4" (可選6" )

活動范圍:150 x 120mm(70 x 50mm 移動距離) 

測量范圍 :200?~ 35?(根據(jù)膜的類型) 

光斑尺寸:20? 典型值 (可選10?、50?)

測量速度:1~2 sec./site

尺寸:190 x 265 x 316 mm 

重量:12Kg 

探頭類型:三目探頭

可供選擇:標準樣品(K-MAC or KRISS or NIST)