性能特點(diǎn)如下:XPF400C型透射偏光熔點(diǎn)測(cè)定儀是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金、石油化工、化 學(xué)纖維、半導(dǎo)體工業(yè)以及藥品檢驗(yàn)等部門和相關(guān)高等院校的高分子...等專業(yè)*常用的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器?？晒V大用戶作單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察以及顯微攝影,來觀察物體在加熱狀態(tài)下的形變、色變及物體的三態(tài)轉(zhuǎn)化。 
本系統(tǒng)廣泛應(yīng)用于高分子材料、聚合物材料等化工領(lǐng)域,適用于研究物體的結(jié)晶相態(tài)分析、共混相態(tài)分布、粒子分散性及尺寸測(cè)量、結(jié)晶動(dòng)力學(xué)的過程記錄分析、液晶分析、織態(tài)結(jié)構(gòu)分析、熔解狀態(tài)記錄觀察分析等總多研究方向。 
偏光顯微熔點(diǎn)測(cè)定儀XPF400C系統(tǒng)匯集了光電、模式識(shí)別、精密加工、圖象學(xué)、自動(dòng)控制、模量學(xué)等總多研究領(lǐng)域的當(dāng)前**技術(shù),多年研究開發(fā)的結(jié)果,在國內(nèi)享有****.本儀器的具有可擴(kuò)展性,可以接計(jì)算機(jī)和數(shù)碼相機(jī)。對(duì)圖片進(jìn)行保存、編輯和打印。

系統(tǒng)數(shù)字性  
XPF400C型偏光熔點(diǎn)儀系統(tǒng)是將精銳的光學(xué)顯微鏡技術(shù)、先進(jìn)的光電轉(zhuǎn)換技術(shù)、**的計(jì)算機(jī)成像技術(shù)和精密的溫控技術(shù)**地結(jié)合在一起而開發(fā)研制成功的一項(xiàng)高科技產(chǎn)品?？梢栽谟?jì)算機(jī)上很方便地觀察不同溫度下的偏光效果圖像,并對(duì)偏光圖譜進(jìn)行分析,處理,還可輸出或打印偏光圖片。

主要參數(shù): 
1.顯微鏡技術(shù)參數(shù):

2.熔點(diǎn)儀技術(shù)參數(shù):

系統(tǒng)組成:1、偏光顯微鏡 2、適配鏡 3、攝像器(CCD) 4、采集卡 5、計(jì)算機(jī)(選配)

選配件:1、150萬像素成像器
2、偏光顯微鏡分析軟件
3、100X無應(yīng)力消色差物鏡(帶浸油1瓶)